Inovacijos

Atgal

Elektroninės mikroskopijos, rentgeno spindulių difraktometrijos ir spektrometrijos atviros prieigos centras

FTMC Medžiagų struktūrinės analizės skyriaus atviros prieigos išteklių pagrindu veikiantis atviros prieigos centras vykdo įvairius medžiagų tyrimus skenuojančios ir peršviečiančios elektroninės mikroskopijos, rentgeno struktūrinės analizės, rentgeno spindulių fluorescencinės spektroskopijos ir rentgeno fotoelektronų bei Ože elektronų spektroskopijų metodais.

Šiame centre atliekamas neardantis nedidelių objektų, pagamintų iš metalo, metalų lydinių, puslaidininkių, keramikos, cheminės sudėties ir plonų neorganinės medžiagos sluoksnių cheminės ir storio nustatymas. Taip pat atliekami kietųjų medžiagų vidinės struktūros tyrimai, kristalinės struktūros defektų tyrimai, mikropriemaišų kristalinės struktūros ir kt. tyrimai.


Atviros prieigos ištekliai - turima įranga

1. Skenuojantis elektroninis mikroskopas su fokusuotų jonų spinduliu Helios NanoLab 650

2. Peršvietimo elektroninis mikroskopas Tecnai G2 F20 X-TWIN

3. Skenuojantis elektroninis mikroskopas EVO-50 EP

4. Rentgeno spindulių difraktometras SmartLab

5. Rentgeno spindulių difraktometras D8 Advance

6. Fluorescencinis rentgeno spindulių spektrometras su bangų dispersija Axios max

7. Anglies ir sieros analizatorius

8. Rentgeno fotoelektronų ir Ože elektronų spektrometras ESCALAB-MKII ir kt.

Žr. detaliau

Teikiamos paslaugos

1. Cheminės sudėties nustatymas skenuojančiu elektroniniu mikroskopu EDX ar WDX mikroanalizės metodu

2. Kietųjų medžiagų paviršiaus ir skersinių pjūvių vaizdų fotografavimas skenuojančiu elektroniniu mikroskopu

3. Kietųjų medžiagų vidinės kristalinės ir defektinės struktūros bei cheminės sudėties tyrimai peršviečiančiu elektroniniu mikroskopu.

4. Polikristalinių medžiagų fazinės sudėties ir kristalinės struktūros tyrimai rentgeno spindulių difrakcijos metodu

5. Polikristalinių medžiagų vyraujančios kristalografinės orientacijos nustatymas polinių figūrų metodu

6. Polikristalinių medžiagų liekamųjų (makro) įtempimų nustatymas

7. Polikristalinių medžiagų fazinės sudėties ir kristalinės struktūros tyrimai rentgeno spindulių difrakcijos metodu aukštose temperatūrose

8. Polikristalinių medžiagų pasirinktos paviršiaus vietos fazinės sudėties ir kristalinės struktūros tyrimai

9. Epitaksinių ir plonų sluoksnių tyrimai aukštos skyros rentgeno spindulių difrakcijos (HRXRD) metodais

10. Plonų polikristalinių sluoksnių fazinės sudėties ir kristalinės struktūros tyrimai In-plane metodu

11. Nanodalelių ir nanoporų (1-10 nm) pasiskirstymo pagal dydį tyrimai plonuose sluoksniuose

12. Cheminės sudėties nustatymas rentgeno spindulių fluorescencinės spektroskopijos su bangų dispersija metodu

13. Anglies ir sieros kiekio nustatymas

14. Rentgeno fotoelektronų ir Ože elektronų spektroskopiniai tyrimai

Žr. detaliau

Dokumentai

Atviros prieigos veiklos taisyklės

Kontaktiniai duomenys ir užsakymų pateikimas

Prof. dr. Remigijus Juškėnas

Saulėtekio al.3, E138, LT-10222 Vilnius

Tel.: +370 5 2648881

Faks. +370 5 2649774

El. paštas: remigijus.juskenas@ftmc.lt