Aukštosios technologijos, taikomos naujoms medžiagoms ir komponentams kurti, siekia valdyti medžiagų savybes (ypač paviršiuje) nanometrų lygmenyje. Dėl šios priežasties vis didesni reikalavimai kyla ir paviršiaus tyrimo bei modifikavimo metodų skyrai bei našumui. Vykdant siūlomą doktorantūros temą, taikant FTMC sukurtą sparčios (skenavimo greitis ~100 kartų didesnis nei įprastinių sistemų) didelio ploto (iki 10 mm2) skenuojančio zondo mikroskopijos (SZM) įrangą, bus vykdomi tyrimai, skirti sukurti optimalius zondo ir paviršiaus sąveikos registravimo ir valdymo mechanizmus, leidžiančius pasiekti geriausią erdvinę skyrą ir duomenų išeigą įvairiems paviršiams (kietakūniams, biologinės prigimties, ir t.t.), o taip pat gaunamų duomenų apdorojimo ir analizės algoritmus.