Aukštosiomis technologijomis formuojamų komponentų matmenims mažėjant iki kelių nanometrų, tribologiniai procesai, vykstantys nanometrų lygmens kontakte (trintis, adhezija, dilimas ir t.t.) tampa vis aktualesni nanolitografijos, nanoelektromechaninių sistemų, skenuojančios zondinės mikroskopijos (SZM) ir kitose srityse. Nors šie procesai tyrinėjami jau seniai, iki šiol jie apsiribodavo santykinai nedidelio greičio diapazonu (iki apie 0,1 mm/s). Nauji SZM paremti metodai leidžia ženkliai praplėsti šį diapazoną (iki 100 mm/s). Tyrimai, skirti atskleisti kontakte vykstančių procesų priklausomybę nuo kontaktuojančių kūnų (tame tarpe bioimitacinių ar biologinių) medžiagos ir geometrijos, greičio, molekulinių sluoksnių skiriamojoje riboje, žadinamų priverstinių virpesių ir t.t. leis sukurti naujas mokslines žinias ir pasiūlyti nanotribologijos valdymo mechanizmus, aktualius kuriant didelės spartos SZM ir ja paremtus nanolitografijos metodus.
Turima įranga: atominių jėgų mikroskopas (AJM) JPK NanoWizard 3, savo sukurti AJM maketai, spartaus sukamojo skenavimo įranga; sparčios duomenų įvesties įranga; optiniai mikroskopai; cheminio paviršių paruošimo laboratorija ir priemonės.
Įvaldytos metodikos: įvairių režimų AJM; spartaus sukamojo skenavimo, cheminio paviršių paruošimo metodikos.
Dėl detalesnės informacijos susisiekite su temos vadovu
A. Ulčinu.