Studies

Back

Fast-scanning large area scanning probe microscopy for high-throughput surface characterization and patterning at the nanoscale

T 008 Medžiagų inžinerija / Materials Engineering
dr. Artūras Ulčinas 
 
LT - Sparti didelio ploto skenuojančio zondo mikroskopija našiam nanometrų lygmens paviršių tyrimui ir litografijai

Aukštosios technologijos, taikomos naujoms medžiagoms ir komponentams kurti, siekia valdyti medžiagų savybes (ypač paviršiuje) nanometrų lygmenyje. Dėl šios priežasties vis didėja poreikis paviršiaus tyrimo bei modifikavimo metodų, pasižyminčių aukšta skyra skyra ir našumu. Neseniai FTMC sukūrėme sparčią didelio ploto skenuojančio zondinio mikroskopo (SZM) sistemą, tinkamą didelių matmenų bandiniams ir turinčią potencialą ženkliai išplėsti SZM taikymo sritis medžiagų moksle ir technologijose. Šio doktorantūros projekto metu, potencialus studentas vykdys tyrimus, kuriais siekiama: suprasti ir valdyti zondo ir paviršiaus sąveiką su įvairiais paviršiais (kietakūniais, biologinės prigimties, ir t.t.) esant dideliam skenavimo greičiui, siekiant optimizuoti erdvinę skyrą ir našumą; sukurti našaus paviršių modifikavimo SZM zondu metodus, taikant elektrai laidaus zondo ir paviršiaus sąveiką.

Tyrimai bus vykdomi tarpdisciplininėje aplinkoje, bendradarbiaujant su fizikos, elektronikos, chemijos ir biologijos specialistais.

EN - Fast-scanning large area scanning probe microscopy for high-throughput surface characterization and patterning at the nanoscale
 

Advanced technologies for the development of new materials and components seek to control the properties of the matter (especially on the surface) at the nanometer level. For this reason, there is an increasing demand for surface characterization and modification methods with superior resolution and throughput. Recently, we have developed fast-scanning, large-area (1 mm2 and beyond) scanning probe microscopy (SPM) system suitable for samples of large dimensions with potential to dramatically expand applications of SPM in materials science and technology. In this PhD project, prospective student will conduct research with the aim of: understanding and controlling the SPM probe-surface interaction with various materials (solid state, soft matter, biological etc) at high scanning velocity for optimal resolution and throughput; developing SPM-based, high-througput surface modification approaches employing interaction between conductive probe and the surface.

The research project will be carried out in highly interdisciplinary environment, which includes experts in physics, electronics, chemistry and biology.