Optoelektroninių sistemų charakterizavimo laboratorija

Laboratorijos vadovas dr. Linas Minkevičius. Tel. +370 5 2312418

Laboratorija atlieka:

  • Nuostoviosios veikos kolimuoto lazerio spindulio, kurio pluošto diametras neviršija 6 mm kalibruotus vidutinės galios matavimus. Lazerio pluošto galios kalibruoti matavimai atliekami 0,19 µm – 11 µm spektriniame diapozane ir 40 µW – 3 W vidutinės galios intervale.
  • Trumpabangės IR spinduliuotės sensorių matricų, liniuočių ir šaltinių charakterizavimas

Matavimai atliekami naudojant "HGH Inrared Systems, IRCOL300/1500" sistemą, kuri suprojektuoja itin tolygaus pasiskirstymo optinį lauką. Optinis laukas sukuriamas naudojant optinio vaizdinimo sistemą su absoliučiai juodo kūno šaltiniu ir VIS/SWIR integruojančios sferos šaltiniu. Optinės spinduliuotės šaltiniai (absoliučiai juodo kūno šaltinis, VIS/SWIR integruojančios sferos šaltinis) yra kalibruoti taikant standartą, prieinamą JAV Nacionaliniam standartų ir technologijos institutui NIST.

Su šia įranga atliekami testai:

Detektorių ir radiometriniai testai

  • SiTF (Signal Tranfer Function)
  • Triukšmų
  1. TN (Temporal Noise)
  2. FPN (Fixed Pattern Noise)
  3. 3D noise
  4. Temporal NPSD and Spatial NPSD (Noise Power Spectral Density)
  • NETD (Noise Equivalent Temperature Difference)
  • NEP/NEI/NER (Power, irradiance, Radiance)
  • NUC (Non Uniformity Correction)
  • BP (Bad Pixels)
  • AGC latency and spatial latency

Optiniai testai

  • LSF/MTF (Line Spread Function/ Modulation Transfer Function)
  • FOV (Field Of View)
  • Distortion
  • MRTD (Minimum Resolvable Temperature Difference)
  • DRI ranges (Detection, Recognition and Identification ranges)