Optoelektroninių sistemų charakterizavimo laboratorija

Laboratorijos vadovas: dr. Linas Minkevičius.

Tel. +37067047632

Tyrimų tikslai

Laboratorijos tikslas – užtikrinti tikslų lazerinės spinduliuotės galios matavimą ir infraraudonosios srities jutiklių bei šaltinių charakterizavimą, taikant kalibruotus radiometrinius ir optinius metodus. Taip pat vertinama jutiklių liniuočių bei vaizdo matricų kokybė infraraudonosios srities diapazone. Matavimai atliekami pagal NIST standartus.

Teikiamos paslaugos:

1. Lazerio spinduliuotės galios matavimai

Atliekami kalibruoti kolimuoto nuolatinės veikos lazerio pluošto matavimai:

pluošto diametras: iki 6 mm;

spektrinis diapazonas: 0,19 µm – 11 µm;

vidutinė galia: 40 µW – 3 W.

2. Artimosios infraraudonosios srities sensorių, matricų, liniuočių ir šaltinių charakterizavimas

Matavimai atliekami naudojant HGH Infrared Systems IRCOL300/1500 sistemą su absoliučiai juodo kūno šaltiniu ir integruojančios sferos šaltiniu:

a) Radiometriniai testai:

signalo perdavimo funkcijos (SiTF) nustatymas;

triukšmų analizė (laikinis, fiksuoto rašto, 3D triukšmas, NPSD);

jautrio parametrai (NETD, NEP, NEI, NER);

blogų pikselių (BP) identifikavimas ir nehomogeniškumo korekcija (NUC);

automatinio stiprinimo (AGC) vėlinimo analizė.

b) Optiniai testai:

skiriamosios gebos ir vaizdo kokybės vertinimas (LSF, MTF);

regos lauko (FOV) ir geometrinių iškraipymų nustatymas;

minimalios temperatūrų skirties nustatymas (MRTD);

objektų aptikimo, atpažinimo ir identifikavimo nuotolių (DRI) įvertinimas.

FTMC OptoLab